沖擊缺口投影儀：

     沖擊缺口投影儀：用于對金屬非金屬材料擺錘沖擊試樣缺口的測量分析工作。通過其特定的電子光學(xué)采樣系統(tǒng)將沖擊試樣缺口形貌進行全視野實時采樣，可完成對擺錘沖擊試樣V、U型缺口深度、缺口角度、缺口底部半徑的測定以及模板式對比測量。操作方便，準確率高，并能進行以往手工不能完成的操作，可自動判斷結(jié)果。儲存的結(jié)果數(shù)據(jù)可供用戶進行反復(fù)核對處理。

      隨著國內(nèi)工業(yè)技術(shù)的發(fā)展，越來越多的行業(yè)已經(jīng)開始執(zhí)行GB/T229-2007《金屬夏比沖擊試驗方法》、《GB/T 8809-2015》 該標準對試樣要求相當(dāng)嚴格，所以在整個試驗過程中，試樣的加工是否合格會直接影響zui終的試驗結(jié)果。如果試樣加工質(zhì)量不合格，那么其試驗結(jié)果是不可信的，特別是試樣缺口的微小變化可能會引起試驗結(jié)果的巨大陡跳，尤其是在試驗的臨界值時，會引起產(chǎn)品的合格或報廢兩種截然相反的不同結(jié)局。為保證試樣缺口的合格以及仲裁復(fù)查的方便，其質(zhì)量檢驗是一個重要的控制手段，目前，我公司通過電子光學(xué)投影技術(shù)檢驗實現(xiàn)了切實可行的方法。

          ：是我公司根據(jù)廣大用戶的實際需要和GB/T299-2007《金屬夏比沖擊試驗方法》、《GB/T 8809-2015》、ASTM E23 中將沖擊試樣缺口的要求而開發(fā)的一種于檢驗夏比V型和U性型缺口加工質(zhì)量的精密儀器。該儀器是利用光學(xué)投影方法將被測的沖擊試樣V型和U型缺口輪廓投射到CMOS上，經(jīng)由采集卡傳輸?shù)絇C，再由SMTMeasSystem_IG_4.0分析軟件計算出缺口深度、缺口角度、缺口根部半徑的數(shù)值，以確定被檢測的試樣缺口是否合格。其優(yōu)點是操作簡便，對比直觀，消除了不同使用人員之間的操作誤差，保存數(shù)據(jù)為以備日后復(fù)查提供可可靠地數(shù)據(jù)。

：功能

      1、沖擊試樣V型缺口精確測量

      2、沖擊試樣缺口U型精確測量

      3、沖擊缺口VU型缺口模板對比